CURSO BÁSICO DE METROLOGÍA
IEEE-Cinvestav -Seventh México Technical Meeting 2025 (MTM_7-2025)
Mexico Chapter and CINVESTAV-IPN Student Branch Chapter
Center for Research and Advanced Studies of the National Polytechnic Institute
CURSO BÁSICO DE METROLOGÍA: INCERTIDUMBRE EN LAS MEDICIONES
El Capítulo Estudiantil EMBs, en colaboración con EDS de la Rama Estudiantil IEEE-CINVESTAV, te invita a participar en un curso fundamental para comprender el arte y la ciencia de la metrología.
En este curso abordaremos:
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Conceptos básicos: ¿Qué es la magnitud física, qué es la unidad, qué es el valor?
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El camino hacia los patrones de referencia: Entiende la importancia de la estandarización y la trazabilidad.
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Nuestra posición a nivel de laboratorios de investigación en la cadena de trazabilidad: Descubre el rol crucial que desempeñan los laboratorios en la cadena metrológica global.
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Interpretación de los resultados de las mediciones: Aprende a decodificar y dar sentido a los datos obtenidos.
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Ya tenemos el resultado ¿Y ahora, qué sigue?: Descubre los siguientes pasos una vez que se ha realizado una medición.
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El error, la incertidumbre, sus implicaciones en la validación de “lo medido”: Profundiza en los conceptos clave de error e incertidumbre y su impacto en la fiabilidad de tus mediciones.
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La “verdad” de los resultados, su peso para el uso práctico de los mismos: Analiza la relevancia de la veracidad de los resultados para su aplicación en el mundo real.
Impartido por: Rubén Pérez Valladares
¡No pierdas esta oportunidad de profundizar tus conocimientos en metrología y la incertidumbre en las mediciones!
Date and Time
Location
Hosts
Registration
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- Av Instituto Politécnico Nacional 2508, San Pedro Zacatenco, Gustavo A. Madero
- Mexico City, Distrito Federal
- Mexico 07360
- Building: Edificio a espaldas del Comedor del Cinvestav, a la izquierda de la sección de Mecatrónica
- Room Number: Laboratorio 3D y Visualización Estereográfica
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- Contact Event Hosts
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Ing. Edna Citlally Hernández Gaspar
ednacitlally.hernand@cinvestav.mx
M.C. Ramon Eduardo Cortina
eduarcortina@ieee.org
Dr. Carlos Alvarado Serrano
Advisor EMBs Student Chapter
- Co-sponsored by Departamento de Ingeniería Eléctrica, Cinvestav.
- Starts 10 July 2025 02:00 PM UTC
- Ends 28 July 2025 06:02 AM UTC
- No Admission Charge
Agenda
Fechas:
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Inicio: 28 de julio de 2025
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Final: 20 de agosto de 2025
Horario: Lunes y Miércoles, de 9:00 AM a 11:00 AM
Lugar: Laboratorio 3D y Visualización Estereográfica
TEMARIO
INTRODUCCION
1. CONCEPTOS BASICOS DE METROLOGIA.
1.1 Magnitudes y unidades
1.2 Mediciones
1.3 Resultados de las mediciones (Conceptos básicos implicados) VIML
1.4 Instrumentos de medición
1.5 Características de los instrumentos de medición
1.6 Patrones de medición
2. PATRONES DE REFERENCIA
2.1 Conceptos Básicos
2.2 Clasificación de los Patrones
2.3 Laboratorios de los Centros de Investigación (Retos de medición)
2.4 Laboratorios de los Centros de Investigación (Trazabilidad hacia Patrones de Referencia)
3. INTRODUCCION AL TEMA DE INCERTIDUMBRE
3.1 Calidad de la medición
3.2 Definiciones
3.3 Incertidumbre en la medición
3.4 Incertidumbre estándar
3.5 Modelo del sistema de medición
3.6 Definición del mensurando
3.7 Modelo matemático del proceso de medición
3.8 Clasificación de componentes de incertidumbre estándar
3.9 Evaluación de incertidumbre Tipo A.
3.10 Evaluación de incertidumbre Tipo B.
3.11 Determinación de incertidumbre combinada.
3.12 Cálculo de la incertidumbre expandida.
3.13 Procedimiento general para determinar incertidumbres.
MTM_7-2025 is an IEEE-Cinvestav Technical meeting. Co-sponsored by the Center for Research and Advanced Studies of the National Polytechnic Institute.