Divulgación y formación - Presentación de papers en Microelectrónica – FeFETs & AI
Reunión 1 de Vacaciones - 2026 02 - Presentaciones Técnicas 1 y 2
Por medio de una videollamada, dos de los integrantes expusieron a forma de capacitación y difusión de conocimiento, relacionado al tema en microelectrónica. Cada uno sobre un paper académico relacionado a la conferencia IEEE SISC.
Empezando por el titulado “Comparative Study of Switching Dynamics in Ferroelectric-based Capacitors with Different Design Options”, en el que se comparan dos capacitores ferroeléctricos para concluir que una de las posibles causas de cierto cambio de medición en el MDFM. Y para finalizar se presentó respecto al paper “Effects of Charge Trapping on Memory Characteristics for HfO2-Based Ferroelectric Field Effect Transistors”, en el que se presentó el fenómeno de atrapamiento de carga y cómo este afecta las características de memoria en los transistores de efecto de campo ferroeléctricos basados en óxido de hafnio.
Al finalizar las dos presentaciones se abordó la importancia de los materiales ferroeléctricos en la era de la Inteligencia Artificial.
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Speakers
Juan Quintero
"FEFets - Memoria & IA"
Se presentó el fenómeno de atrapamiento de carga (Charge Trapping) y el cómo afecta las características de memoria en los transistores de efecto de campo ferroeléctricos (FeFETs) basados en óxido de hafnio (HfO2). Presentación basada en el paper “Effects of Charge Trapping on Memory Characteristics for HfO2-Based Ferroelectric Field Effect Transistors”.
Address:Bogotá, Colombia
Jeronimo Castro
"MFM vs. MFDM: Impacto del diseño de stack en la dinámica de conmutación ferroeléctrica"
Se compararon dos capacitores ferroeléctricos (MFM y MFDM) para concluir una de las posibles causas de cierto cambio de medición en el MDFM. Presentación basada en el paper “Comparative Study of Switching Dynamics in Ferroelectric-based Capacitors with Different Design Options”.
Address:Bogotá, Colombia
Agenda
- Hora de inicio: 5:00 PM.
- Hora de finalización: 6:00 PM.
Reunión en español vía virtual | Electronic Devices Society Javeriana